AIP_NEXT_small
PLP 平面電漿探針 (updated: 04/15/2014)

當採用平面電漿探針(Planar Langmuir Probe, PLP)模式,PLP 的電極將施以掃描電位(通常在-10 V+10 V之間)。而 G2 將維持在浮動電位,以避免干擾 PLP 的電流收集。此時記錄 PLP 所收集的電流,便可得到電流與電壓曲線。一旦 PLP 上的電壓略小於電漿電位時,PLP 便會開始排斥電子而轉為加速正離子。隨著 PLP 的電壓持續下降,可進入 PLP 的電子流會大幅的下降。電子的溫度則可由下降的斜率來決定。倘若斜率較平,則電子溫度較高。若斜率比較陡峭,則電子溫度較低。